JB/T 7902-2006 无损检测 射线照相检测用线型像质计

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 00:26:31   浏览:9124   来源:标准资料网
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基本信息
标准名称:无损检测 射线照相检测用线型像质计
英文名称:Non-destructive testing-Image quality indicators(wire type) for radiographic testing
中标分类: 机械 >> 机械综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 试验 >> 无损检测
替代情况:替代JB/T 7902-1999
发布部门:国家发展和改革委员会
发布日期:2006-11-27
实施日期:2007-05-01
首发日期:
作废日期:
主管部门:国家发展和改革委员会
提出单位:中国机械工业联合会
归口单位:全国无损检测标准化技术委员会
起草单位:上海材料所、浙江省缙云像质计厂
起草人:金宇飞、宓中玉、柳章龙
出版社:机械工业出版社
出版日期:2007-05-01
页数:11页
批文号:19328-2007
书号:15111·8127
适用范围

本标准适用于由钢、铝、钛、铜以及其他金属制成的线型像质计。本标准适用于线型像质计的型式检验和出厂检验。本标准也可作为用户订货的验收依据。

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所属分类: 机械 机械综合 基础标准与通用方法 试验 无损检测
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【英文标准名称】:Microcircuits.Digitalmicrocircuits.Fusiblelinkprommemories.
【原文标准名称】:微电路.数字微电路.可熔链路程序存储器
【标准号】:NFC96-251-1983
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1983-12-01
【实施或试行日期】:1983-12-07
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:作标记;电学测量;质量管理;特性;名称与符号;存储器;动力试验;电性能;逻辑集成电路;静力学;静态特性;微电子电路;逻辑微型电路;动力特性;电性质和电现象;计算机存储设备;性能试验;设备规范;产品规范;性能评定;集成电路
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55
【国际标准分类号】:31_200;35_160
【页数】:9P;A4
【正文语种】:其他


Product Code:SAE AS21237
Title:Ring, Cargo Tiedown (25 000 Lb), Type IV (STABILIZED Nov 2011)
Issuing Committee:Age-2a Cargo Handling Committee
Scope:No scope available.